กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด

จากวิกิพีเดีย สารานุกรมเสรี

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) (อังกฤษ: Scanning Electron microscope) ประดิษฐ์ขึ้นครั้งแรกเมื่อปี พ.ศ. 2481 โดยเอม วอง เอนเดนนี ใช้ศึกษาโครงส้รางภายนอกของวัตถุ ลักษณะผิวภายนอกของเซลล์ ผิวโลหะ มองเห็นความลึกภาพปรากฏบนจอคอมพิวเตอร์เป็นภาพ 3 มิติ มีกำลังขยายสูงหลายหมื่นเท่า

อ้างอิง[แก้]

  • เพทาย บุณยรัตพันธุ์ และ รัตน์สุณี สุขพณิชนันท์. ชีววิทยา 1 (แอคทีฟพริ้นท์, กรุงเทพฯ; 2557; หน้า 30)