ข้ามไปเนื้อหา

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องผ่าน

จากวิกิพีเดีย สารานุกรมเสรี
(เปลี่ยนทางจาก Transmission electron microscopy)
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน ปีค.ศ.1960

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (TEM) (อังกฤษ: transmission electron microscope) ประดิษฐ์ขึ้นครั้งแรกเมื่อปี พ.ศ. 2474 โดยเอิร์นท์ รุสกา และคณะ โดยวัตถุที่นำมาส่องต้องมีขนาดเล็ก และเฉือนให้บางมาก ๆ ประมาณ 60 ถึง 90 ไมโครเมตร เหมาะสำหรับการศึกษาโครงสร้างภายในของเซลล์ ภาพที่ปรากฏบนจอเรืองแสงเป็นภาพ 2 มิติ มีกำลังขยายสูงมากถึง 500,000 ถึง 1,000,000 เท่า นอกจากจะใช้ศึกษาสิ่งมีชีวิต ยังใช้สำหรับส่องรูปผลึกของสารต่าง ๆ ในการวิเคราะห์ทางเคมีได้

อ้างอิง

[แก้]
  • เพทาย บุณยรัตพันธุ์ และ รัตน์สุณี สุขพณิชนันท์. ชีววิทยา 1 (แอคทีฟพริ้นท์, กรุงเทพฯ; 2557; หน้า 30)